发明授权
- 专利标题: 半导体结构及其形成方法
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申请号: CN201911235505.5申请日: 2019-12-05
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公开(公告)号: CN112928057B公开(公告)日: 2023-05-19
- 发明人: 岳华聪
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 , 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号;
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号;
- 代理机构: 上海知锦知识产权代理事务所
- 代理商 高静
- 主分类号: H01L21/762
- IPC分类号: H01L21/762 ; H01L23/528
摘要:
一种半导体结构及其形成方法,形成方法包括:提供基底,基底上形成有多个核心层、以及保形覆盖核心层和基底的侧墙材料层,相邻的核心层和基底围成凹槽,凹槽的延伸方向为第一方向,与第一方向相垂直的为第二方向;在侧墙材料层上形成具有开口的牺牲层,开口位于部分凹槽上方,在第一方向上,开口露出相对应的凹槽的部分底部,且在第二方向上,开口露出凹槽两侧的核心层的部分顶部;去除开口露出的核心层顶部的侧墙材料层;至少填充牺牲层露出的凹槽,形成阻挡层;去除牺牲层;以阻挡层为掩膜,去除位于核心层顶部以及凹槽底部的侧墙材料层,形成侧墙层;形成侧墙层后,去除核心层。本发明避免出现核心层去除不完全的问题,以提高图形传递的精度。
公开/授权文献
- CN112928057A 半导体结构及其形成方法 公开/授权日:2021-06-08
IPC分类: