Invention Grant
- Patent Title: 翻转磁场的测试方法
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Application No.: CN201910817850.3Application Date: 2019-08-30
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Publication No.: CN112444764BPublication Date: 2024-08-23
- Inventor: 何世坤 , 哀立波 , 罗飞龙 , 王明
- Applicant: 中电海康集团有限公司 , 浙江驰拓科技有限公司
- Applicant Address: 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室;
- Assignee: 中电海康集团有限公司,浙江驰拓科技有限公司
- Current Assignee: 中电海康集团有限公司,浙江驰拓科技有限公司
- Current Assignee Address: 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室;
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 董文倩
- Main IPC: G01R33/12
- IPC: G01R33/12

Abstract:
本申请提供了一种翻转磁场的测试方法,该测试方法包括以下步骤:将多个待测的阻变器件串联,形成待测器件组,各阻变器件包括至少一个磁性层;在待测器件组所在的空间内施加测试磁场,测量待测器件组的测试电阻;重复施加测试磁场,直到待测器件组的至少部分磁性层发生翻转,得到第一关系式,第一关系式为测试电阻与测试磁场之间的关系式,且得到的至少部分测试电阻不同,每次重复过程中,后一次的测试磁场大于或者小于前一次的测试磁场;至少根据第一关系式获取待测器件组的相关参数,相关参数包括待测器件组的翻转磁场的均值和翻转磁场的标准差。相较于多个器件多次测量方法,该测试方法可以有效节省测试时间,极大提升测试效率。
Public/Granted literature
- CN112444764A 翻转电压的测试方法 Public/Granted day:2021-03-05
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