Invention Grant
- Patent Title: 电迁移区域检测方法、装置、计算机设备和存储介质
-
Application No.: CN202011123112.8Application Date: 2020-10-20
-
Publication No.: CN112215827BPublication Date: 2025-01-07
- Inventor: 吴长雷 , 李勇 , 丁俊超 , 浦黎 , 董世儒 , 纪庆泉
- Applicant: 中广核核电运营有限公司 , 中国广核集团有限公司 , 中国广核电力股份有限公司
- Applicant Address: 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层; ;
- Assignee: 中广核核电运营有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- Current Assignee: 中广核核电运营有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- Current Assignee Address: 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层; ;
- Agency: 华进联合专利商标代理有限公司
- Agent 李文渊
- Main IPC: G06T7/00
- IPC: G06T7/00 ; G06T7/11 ; G06T7/13 ; G06T7/62 ; G06T7/90 ; G06T5/30 ; G06T5/20 ; G06T5/70 ; G06T5/60
Abstract:
本申请涉及一种电迁移区域检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取电路板图像；对所述电路板图像进行边缘检测，得到所述电路板图像的边缘信息；基于所述边缘信息对所述电路板图像中的干扰物进行识别；将所述干扰物从所述电路板图像中去除，得到无干扰物的目标电路板图像；通过视觉显著性检测算法，提取所述目标电路板图像中的电迁移区域。采用本方法能够提高对电迁移区域检测的效率。
Public/Granted literature
- CN112215827A 电迁移区域检测方法、装置、计算机设备和存储介质 Public/Granted day:2021-01-12
Information query
