密封效果的评估方法、装置、处理器及电子装置
摘要:
本发明公开了一种密封效果的评估方法、装置、处理器及电子装置。该方法包括:根据三维密封结构的对称性从三维密封结构中选取截面,其中,截面在三维密封结构的压缩过程中保持为平面;对截面进行仿真分析,得到分析结果;基于分析结果对三维密封结构的密封效果进行评估。本发明解决了相关技术中所提供的三维密封结构的密封效果评估方式的计算复杂度较高、耗时较长、效率较低的技术问题。
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