发明公开
- 专利标题: 一种BMS电路测试系统及测试方法
- 专利标题(英): BMS circuit test system and test method
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申请号: CN201910922451.3申请日: 2019-09-27
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公开(公告)号: CN110703071A公开(公告)日: 2020-01-17
- 发明人: 汤平 , 熊刚 , 邓秉杰 , 王伟平 , 黄才旺 , 陈火槟
- 申请人: 福建星云电子股份有限公司
- 申请人地址: 福建省福州市马尾区快安马江大道石狮路6号1-4#楼
- 专利权人: 福建星云电子股份有限公司
- 当前专利权人: 福建星云电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 福建省福州市马尾区快安马江大道石狮路6号1-4#楼
- 代理机构: 福州市鼓楼区京华专利事务所
- 代理商 林燕
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28
摘要:
本发明提供一种BMS电路测试系统,包括复数台LMU测试设备、一台BMU测试设备、一台HVB测试设备、一保护模块、一保护罩以及一测试控制设备;所述LMU测试设备、BMU测试设备、HVB测试设备、保护模块以及测试控制设备均设于保护罩内部;所述BMU测试设备、HVB测试设备以及各LMU测试设备均与测试控制设备相连接,所述保护模块与测试控制设备相连接;每所述LMU测试设备均与一本地电池监控单元相连接,所述BMU测试设备与电池系统管理单元相连接,所述HVB测试设备与高压盒相连接。本发明优点:可提高系统的测试效率和测试覆盖度。
公开/授权文献
- CN110703071B 一种BMS电路测试系统及测试方法 公开/授权日:2021-12-14