Invention Publication
- Patent Title: 异常判别装置、异常判别系统、异常判别方法、存储介质
- Patent Title (English): Abnormality determination apparatus, abnormality determination system, abnormality determination method and storage medium
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Application No.: CN201910086911.3Application Date: 2019-01-29
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Publication No.: CN110103073APublication Date: 2019-08-09
- Inventor: 前川进 , 角田宽英
- Applicant: 发那科株式会社
- Applicant Address: 日本山梨县
- Assignee: 发那科株式会社
- Current Assignee: 发那科株式会社
- Current Assignee Address: 日本山梨县
- Agency: 北京银龙知识产权代理有限公司
- Agent 曾贤伟; 范胜杰
- Priority: 2018-016178 2018.02.01 JP
- Main IPC: B23Q17/00
- IPC: B23Q17/00

Abstract:
本发明提供一种可以不增加成本而简单地检查机床中的温度传感器的异常的异常判别装置、异常判别系统、异常判别方法、存储介质。异常判别装置(1)判别多个机床(4)中的温度传感器(7)的异常,多个机床(4)是同等机器种类、被设置于同等环境中、在同等位置设置有温度传感器(7)、并在同等时刻进行同等加工处理,具有:温度数据取得部(11),其从多个机床(4)中的每一个取得温度传感器(7)输出的温度数据;比较部(12),其将通过温度数据取得部(11)取得的温度数据进行比较;异常判别部(13),其根据比较部(12)的比较结果,判别温度传感器(7)的异常。
Public/Granted literature
- CN110103073B 异常判别装置、异常判别系统、异常判别方法、存储介质 Public/Granted day:2021-04-02
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