发明授权
- 专利标题: 半导体器件和检测其旋转异常的方法
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申请号: CN201811548466.X申请日: 2018-12-18
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公开(公告)号: CN110031228B公开(公告)日: 2022-10-04
- 发明人: 渡边久晃
- 申请人: 瑞萨电子株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 瑞萨电子株式会社
- 当前专利权人: 瑞萨电子株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京市金杜律师事务所
- 代理商 李辉; 董典红
- 优先权: 2017-244728 20171221 JP
- 主分类号: G01M15/00
- IPC分类号: G01M15/00 ; G01B7/30 ; G01H17/00
摘要:
本申请涉及半导体器件和检测其旋转异常的方法。传统的半导体器件需要使用单独的振动传感器等来检测电动机的旋转异常。根据一个实施例,一种半导体器件包括:解角器旋转角度转换电路,其从测量电动机的旋转角度的解角器获得表示所述电动机的旋转角度的旋转角度信号,并通过将所述旋转角度信号转换为数字值来生成旋转角度信息;电动机旋转角度转换电路,其通过将关于所述电动机的每个相的旋转角度信息转换为电动机的角度变化来生成旋转角度时间变化信息;以及确定电路,其在旋转角度时间变化信息中的旋转角度时间变化超过波动异常检测范围的情况下确定在所述电动机中发生异常。
公开/授权文献
- CN110031228A 半导体器件和检测其旋转异常的方法 公开/授权日:2019-07-19