- 专利标题: 一种高时空分辨软X射线辐射流定量测量系统
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申请号: CN201910372947.8申请日: 2019-05-06
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公开(公告)号: CN109975859B公开(公告)日: 2023-10-31
- 发明人: 刘慎业 , 杨志文 , 李晋 , 谢旭飞 , 车兴森 , 胡昕
- 申请人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址: 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 专利权人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人地址: 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 代理机构: 绵阳山之南专利代理事务所
- 代理商 沈强
- 主分类号: G01T1/29
- IPC分类号: G01T1/29
摘要:
本发明公开了一种高时空分辨软X射线辐射流定量测量系统,所述系统被测光源置于两个掠入射X射线显微镜前方,光源发射的X射线分别通过显微镜的两个通道,再经开缝闪烁体、中性衰减片、复合滤片,分别成像于X射线二极管探测器和X射线条纹相机光阴极上,产生光电子,可对X射线辐射流进行高时空分辨测量;与现有技术相比,本发明采用掠入射X射线显微镜代替针孔进行成像,提高了测量系统空间分辨率和灵敏度,条纹相机与X射线二极管探测器对比测量,实现条纹相机对X射线辐射流定量测量,提高了辐射流测量的时间分辨率。本发明可对纳秒脉冲软X射线源辐射的能流进行高时空分辨的定量测量,在脉冲X射线辐射探测领域具有广泛的应用前景。
公开/授权文献
- CN109975859A 一种高时空分辨软X射线辐射流定量测量系统 公开/授权日:2019-07-05