发明授权
- 专利标题: 颗粒二维轮廓表面整体粗糙度计算方法
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申请号: CN201810825940.2申请日: 2018-07-25
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公开(公告)号: CN109084708B公开(公告)日: 2020-04-21
- 发明人: 苏栋 , 王翔 , 庞小朝 , 陈湘生
- 申请人: 深圳大学
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区南海大道3688号
- 专利权人: 深圳大学
- 当前专利权人: 深圳大学
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区南海大道3688号
- 代理机构: 深圳市添源知识产权代理事务所
- 代理商 罗志伟
- 主分类号: G01B11/30
- IPC分类号: G01B11/30 ; G06F30/20 ; G06F17/14
摘要:
本发明公开了一种颗粒二维轮廓表面整体粗糙度计算方法,包括以下步骤:步骤S10,对颗粒的边缘进行区域划分,对划分后的每个区域均进行扫描,获得各分区的扫描图片,将各分区的扫描图片进行拼接形成完整轮廓图片,其中,每两个相邻的分区具有相交区域,所述完整轮廓图片显示有颗粒的实际轮廓;步骤S20,基于所述实际轮廓构建傅里叶函数,计算出傅里叶系数和基准坐标点,并基于基准坐标点构建基准轮廓;步骤S30,基于所述基准轮廓和实际轮廓计算颗粒的轮廓表面粗糙度。解决了在对于不规则二维颗粒,大多数粗糙度计算方法并不适用,计算不科学,精准度低的技术问题。
公开/授权文献
- CN109084708A 颗粒二维轮廓表面整体粗糙度计算方法 公开/授权日:2018-12-25