Invention Publication
- Patent Title: 半导体装置及其制造方法
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Application No.: CN201810029456.9Application Date: 2018-01-12
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Publication No.: CN109003955APublication Date: 2018-12-14
- Inventor: 李起洪
- Applicant: 爱思开海力士有限公司
- Applicant Address: 韩国京畿道
- Assignee: 爱思开海力士有限公司
- Current Assignee: 爱思开海力士有限公司
- Current Assignee Address: 韩国京畿道
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 李辉; 刘久亮
- Priority: 10-2017-0070981 2017.06.07 KR
- Main IPC: H01L23/485
- IPC: H01L23/485 ; H01L23/488

Abstract:
半导体装置及其制造方法。一种半导体装置包括:层叠结构;沟道层,其穿过层叠结构;阱板,其位于层叠结构下方;源极层,其位于层叠结构和阱板之间;连接结构,其将沟道层彼此联接,并且包括接触源极层的第一触点和接触阱板的第二触点;以及隔离图案,其将源极层和阱板彼此绝缘。
Public/Granted literature
- CN109003955B 半导体装置及其制造方法 Public/Granted day:2022-03-18
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IPC分类: