一种检测封装胶的应力的方法及装置
摘要:
本发明提供一种检测封装胶的应力的方法及装置,该方法包括如下步骤:A1,提供封装支架、模拟LED芯片发热的模型件、金属焊接线及封装胶,模型件固晶于封装支架上,所述金属焊接线包括铜线以及包覆于该铜线外表面的镀银层,所述金属焊接线焊接于封装支架与模型件之间,使封装支架与模型件形成电连接,所述封装胶覆盖所述模型件及金属焊接线;A2,将封装支架接入电源,使模型件工作,以模拟LED芯片的发热;A3,断开电源,使模型件停止工作,并冷却至室温;A4,重复A2至A3的步骤,并观察金属焊接线是否黑化,根据黑化颜色深浅确定位于该处的封装胶应力大小,若黑化颜色较深,则应力较大,若黑化颜色较浅或未黑化,则应力较小。
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