光栅编码器可靠性试验装置
Abstract:
本发明公开了一种光栅编码器可靠性试验装置,旨在解决光栅编码器可靠性低、故障率高、运行数量少与难以拆卸的问题,其包括主体部分、高低伸缩小车、模拟工况装置与检测控制系统;主体部分包括回转装置(A)、装卸装置(B)与安装装置;回转装置(A)包括回转支承轴承(1);装卸装置(B)包括凸台(5);高低伸缩小车包括对接台(150)与安装在对接台(150)上的锥形销(155);模拟工况装置包括三综合试验箱(159),其内设三综合试验箱底板(162);主体部分通过回转支承轴承(1)安装在三综合试验箱底板(162)上,高低伸缩小车通过锥形销(155)与凸台(5)连接;检测控制系统和安装装置、模拟工况装置电连接。
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