发明授权
- 专利标题: 基于太赫兹波检测大米的方法及系统
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申请号: CN201810231619.1申请日: 2018-03-20
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公开(公告)号: CN108444940B公开(公告)日: 2020-10-02
- 发明人: 李灿 , 沈耀春 , 丁庆 , 李辰
- 申请人: 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司 , 深圳市太赫兹科技创新研究院
- 申请人地址: 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东;
- 专利权人: 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司,深圳市太赫兹科技创新研究院
- 当前专利权人: 深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东;
- 代理机构: 广州华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 石佩
- 主分类号: G01N21/3586
- IPC分类号: G01N21/3586 ; G01N21/3563 ; G01N21/55
摘要:
本发明涉及一种基于太赫兹波检测大米的方法。方法包括:以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描待测样品;采集待测样品所反射的太赫兹频段的反射波,并获取反射波的反射光谱;根据反射光谱对待测样品进行垩白区域检测。本发明还涉及一种基于太赫兹波检测大米的系统。上述基于太赫兹波检测大米的方法及系统,由垩白区域和非垩白区域反射的反射波的光强也不同。因此根据检测各个位置的反射波得到的反射光谱,便可分析待测样品的内部结构,由此判断待测样品内部是否存在垩白区域,太赫兹频段的电磁波穿透性强,分辨率高,操作简单,对待测样品无破坏性,检测大米垩白结构的效果较好。
公开/授权文献
- CN108444940A 基于太赫兹波检测大米的方法及系统 公开/授权日:2018-08-24
IPC分类: