- 专利标题: 蚀刻用组合物以及利用该组合物半导体器件的制造方法
- 专利标题(英): COMPOSITION FOR ETCHING AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING SAME
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申请号: CN201680071078.X申请日: 2016-10-28
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公开(公告)号: CN108291132A公开(公告)日: 2018-07-17
- 发明人: 林廷训 , 李珍旭 , 朴宰完
- 申请人: 秀博瑞殷株式公社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 秀博瑞殷株式公社
- 当前专利权人: 秀博瑞殷株式公社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 北京鸿元知识产权代理有限公司
- 代理商 李静; 张云志
- 优先权: 10-2015-0172472 2015.12.04 KR
- 国际申请: PCT/KR2016/012215 2016.10.28
- 国际公布: WO2017/095022 KO 2017.06.08
- 进入国家日期: 2018-06-04
- 主分类号: C09K3/00
- IPC分类号: C09K3/00 ; H01L21/306 ; C09K13/06 ; C09K13/04 ; C09K13/08
摘要:
本发明涉及蚀刻用组合物以及包括利用该蚀刻用组合物的蚀刻工艺的半导体器件的制造方法,所述蚀刻用组合物包含:第一无机酸;第一添加剂,其为选自亚磷酸(phosphorous acid)、有机亚磷酸酯(organic phosphite)、次磷酸盐(hypophosphite)及它们的混合物中的任意一种;以及溶剂。所述蚀刻用组合物能够最大限度地降低氧化膜的蚀刻率,并且能够选择性地去除氮化膜,不会产生对器件特性造成恶劣影响的颗粒,具有高选择比。
公开/授权文献
- CN108291132B 蚀刻用组合物以及利用该组合物半导体器件的制造方法 公开/授权日:2022-01-14