Invention Publication

高压超结结构的制备方法
Abstract:
本发明涉及一种高压超结结构的制备方法,其包括如下步骤:步骤1、对半导体衬底进行沟槽刻蚀,以得到宽槽;步骤2、在上述宽槽的上方进行第二导电类型外延层的淀积,以得到第二导电类型外延层;步骤3、在上述宽槽上方进行第一导电类型外延层的淀积,以得到第一导电类型外延层;步骤4、重复上述第二导电类型外延层与第一导电类型外延层的淀积工艺步骤,直至将宽槽填满;步骤5、对上述半导体衬底的正面、背面进行减薄,以得到第二导电类型柱与第一导电类型柱交替排列的超结结构。本发明工艺步骤简单,与现有工艺兼容,采用具有较小深宽比的常规刻蚀工艺,形成长宽比更大的硅柱,不需要增加额外的光刻和注入,从而降低了成本。
Patent Agency Ranking
0/0