发明授权
CN107750420B 电压生成电路及过电流检测电路
失效 - 权利终止
- 专利标题: 电压生成电路及过电流检测电路
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申请号: CN201680032766.5申请日: 2016-11-08
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公开(公告)号: CN107750420B公开(公告)日: 2020-04-17
- 发明人: 森贵浩 , 赤羽正志
- 申请人: 富士电机株式会社
- 申请人地址: 日本神奈川县川崎市
- 专利权人: 富士电机株式会社
- 当前专利权人: 富士电机株式会社
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县川崎市
- 代理机构: 北京铭硕知识产权代理有限公司
- 代理商 周爽; 金玉兰
- 优先权: 2015-238936 2015.12.07 JP
- 国际申请: PCT/JP2016/083022 2016.11.08
- 国际公布: WO2017/098849 JA 2017.06.15
- 进入国家日期: 2017-12-05
- 主分类号: H02M1/00
- IPC分类号: H02M1/00 ; H02M1/08
摘要:
本发明提供一种电压生成电路及过电流检测电路,其具备:第一电阻分压电路,其由将低温度系数电阻体串联连接而构成,对预定的电源电压进行电阻分压而生成参考电压;一个或多个第二电阻分压电路,其由将具有正电阻温度系数或负电阻温度系数的电阻体和所述低温度系数电阻体串联连接而构成,对所述电源电压进行电阻分压来生成随温度而变的分压电压;仪表放大器,其根据所述参考电压与所述分压电压的电压差,生成比较基准电压。还具有比较器,所述比较器在随着温度上升分压电压超过预定的电压阈值时,改变由所述第二电阻分压电路生成并施加于所述仪表放大器的所述分压电压,或者改变所述仪表放大器的增益。
公开/授权文献
- CN107750420A 电压生成电路及过电流检测电路 公开/授权日:2018-03-02