- 专利标题: 基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法
- 专利标题(英): Method for identifying defect profile of pseudo three-dimensional magnetic flux leakage signal based on normal component
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申请号: CN201710784842.4申请日: 2017-09-04
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公开(公告)号: CN107741454A公开(公告)日: 2018-02-27
- 发明人: 黄松岭 , 彭丽莎 , 赵伟 , 王珅 , 李世松 , 邹军
- 申请人: 清华大学
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园
- 专利权人: 清华大学
- 当前专利权人: 清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 张润
- 主分类号: G01N27/83
- IPC分类号: G01N27/83
摘要:
本发明公开了一种基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法,包括:从待测试件中选取识别区域;对检测数据进行过滤处理,得到漏磁信号法向分量;通过水平差分信号与第一预设倍数相乘得到伪漏磁信号水平分量;通过垂直差分信号与第二预设倍数相乘得到伪漏磁信号垂直分量;将漏磁信号法向分量、伪漏磁信号水平分量和伪漏磁信号垂直分量进行伪三维漏磁信号合成操作,得到合成漏磁信号;选取预设阈值,得到缺陷识别轮廓。该方法可以从漏磁信号的法向分量中衍生出漏磁信号水平分量和漏磁信号垂直分量的近似值,进而构建伪三维漏磁信号实现缺陷轮廓识别,相较于传统的一维漏磁信号缺陷轮廓识别,具有更高的求解精度和更好的识别效果。
公开/授权文献
- CN107741454B 基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法 公开/授权日:2019-11-22