发明公开
- 专利标题: 检查系统、检查装置以及检查方法
- 专利标题(英): INSPECTION SYSTEM, INSPECTION DEVICE, AND INSPECTION METHOD
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申请号: CN201580080692.8申请日: 2015-06-24
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公开(公告)号: CN107614674A公开(公告)日: 2018-01-19
- 发明人: 横井崇秀 , 白井正敬
- 申请人: 株式会社日立制作所
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立制作所
- 当前专利权人: 株式会社日立制作所
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 金鲜英; 陈彦
- 国际申请: PCT/JP2015/068114 2015.06.24
- 国际公布: WO2016/207986 JA 2016.12.29
- 进入国家日期: 2017-12-05
- 主分类号: C12M1/34
- IPC分类号: C12M1/34 ; C12Q1/02
摘要:
从待测物以光学方式取得多个生物体试样的特征量,将特征量与关于同一待测物的事先的检查信息进行比较,基于比较结果算出指标,该指标判定继续进行供于生物体试样的基因分析的处理、还是从同一待测物进行试样再调整。由此在单一细胞解析或少数的细胞集团的分析中实现抑制分析费用、分析时间、劳力的同时,适当地选择检查试样而确保妥当性,从而能够实现可靠性更高的生物标记检测。
公开/授权文献
- CN107614674B 检查系统、检查装置以及检查方法 公开/授权日:2022-05-17