发明公开
- 专利标题: 一种Ⅲ-Ⅴ族半导体材料刻蚀方法
- 专利标题(英): Method for etching III-V-group semiconductor material
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申请号: CN201710464689.7申请日: 2017-06-19
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公开(公告)号: CN107507770A公开(公告)日: 2017-12-22
- 发明人: 尚飞 , 冯晓芳
- 申请人: 青岛海信宽带多媒体技术有限公司
- 申请人地址: 山东省青岛市经济技术开发区前湾港路218号
- 专利权人: 青岛海信宽带多媒体技术有限公司
- 当前专利权人: 青岛海信宽带多媒体技术有限公司
- 当前专利权人地址: 山东省青岛市经济技术开发区前湾港路218号
- 代理机构: 北京鑫媛睿博知识产权代理有限公司
- 代理商 龚家骅
- 主分类号: H01L21/3065
- IPC分类号: H01L21/3065 ; C23F1/12
摘要:
本申请提出了一种Ⅲ-Ⅴ族半导体材料刻蚀方法,该方法包括,在预设条件下使用刻蚀混合气体对刻蚀腔中的Ⅲ-Ⅴ族半导体材料进行刻蚀,其中,所述刻蚀混合气体包括,甲烷、氢气、氩气以及氯基气体,所述刻蚀混合气体中各所述气体的体积比为,甲烷:氢气:氩气:氯基气体=1:3:1:1~1:3:2:3。本申请提出的刻蚀方法可以实现在50℃的环境下对Ⅲ-Ⅴ族半导体材料进行刻蚀深度为10μm的深度刻蚀。
公开/授权文献
- CN107507770B 一种Ⅲ-Ⅴ族半导体材料刻蚀方法 公开/授权日:2019-11-12
IPC分类: