- 专利标题: 抛光设备的抛光平面度控制方法、装置和抛光设备
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申请号: CN201710774883.5申请日: 2017-08-31
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公开(公告)号: CN107471084B公开(公告)日: 2019-01-18
- 发明人: 张敬业 , 路新春 , 沈攀 , 王同庆
- 申请人: 清华大学 , 天津华海清科机电科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园
- 专利权人: 清华大学,天津华海清科机电科技有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,华海清科股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 黄德海
- 主分类号: B24B37/005
- IPC分类号: B24B37/005 ; B24B37/04
摘要:
本发明公开了一种抛光设备的抛光平面度控制方法、装置和抛光设备。该方法包括以下步骤:对抛光设备所加工的晶圆的多个施压区域分别施加对应的抛光压力以进行抛光处理;获取多个施压区域中每个施压区域的抛光厚度,并获取抛光时间;根据每个施压区域的抛光厚度和抛光时间计算每个施压区域的实际去除速率;根据每个施压区域的实际去除速率和对应的基准去除速率计算每个施压区域的去除速率漂移量;根据每个施压区域的去除速率漂移量调整抛光液的落点位置。根据本发明的抛光设备的抛光平面度控制方法,可以延长抛光垫的使用周期、提高抛光设备的使用效率、降低生产成本、提高晶圆的良品率,且简单有效、稳定性高。
公开/授权文献
- CN107471084A 抛光设备的抛光平面度控制方法、装置和抛光设备 公开/授权日:2017-12-15