发明公开
CN107359153A 具有沟槽结构的高容量硅电容器的制造方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 具有沟槽结构的高容量硅电容器的制造方法
- 专利标题(英): Manufacturing method of high-capacity silicon capacitor with trench structure
-
申请号: CN201710555249.2申请日: 2017-07-10
-
公开(公告)号: CN107359153A公开(公告)日: 2017-11-17
- 发明人: 高在洪
- 申请人: 宏衍微电子(大连)有限公司
- 申请人地址: 辽宁省大连市经济技术开发区松竹梅路19号文园海景第15层3号
- 专利权人: 宏衍微电子(大连)有限公司
- 当前专利权人: 宏衍微电子(大连)有限公司
- 当前专利权人地址: 辽宁省大连市经济技术开发区松竹梅路19号文园海景第15层3号
- 代理机构: 大连智高专利事务所
- 代理商 胡景波
- 主分类号: H01L23/64
- IPC分类号: H01L23/64
摘要:
本发明涉及具有沟槽结构的高容量硅电容器的制造方法,属于电容器技术领域。主要技术方案如下:形成沟槽结构;修复沟槽结构粗糙表面;沟槽绝缘层;叠层电极层和介电层;蚀刻电极层和介电层;形成保护层和连接通道;形成外部端子。本发明采用连续叠层的方法形成电极层和介电层,然后连续进行蚀刻,可以防止叠层蚀刻的损伤。采用十字型的沟槽结构,可以防止硅柱子倒下;另外,采用本发明的方法形成硅电容器时只需要一次过孔操作,节约了操作成本。
IPC分类: