阻抗匹配方法、阻抗匹配器及半导体加工设备
摘要:
本发明提供一种阻抗匹配方法、阻抗匹配器及半导体加工设备。阻抗匹配方法包括以下步骤:步骤S1,获取驱动机构的第一调节量;步骤S2,调节驱动机构的位置;步骤S3,获取驱动机构的实际位置;步骤S4,判断驱动机构的实际位置是否到达期望位置,若否,则获取所述驱动机构的第二调节量,并转至步骤S2;若是,则执行步骤S5;步骤S5,判断负载阻抗和射频电源的输出阻抗是否匹配,若是,则执行步骤S6;若否,则执行步骤S1;步骤S6,判断工艺是否结束,若否,则执行步骤S5,若是,则结束工艺。该阻抗匹配方法可避免匹配点漂移问题,从而提高阻抗匹配器的稳定性、可靠性和重复性。
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