Invention Grant
- Patent Title: 一种在开磁路中测量铁磁材料磁滞回线的方法及其装置
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Application No.: CN201710310786.0Application Date: 2017-05-05
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Publication No.: CN107085192BPublication Date: 2019-04-26
- Inventor: 申永鹏 , 金楠 , 郭磊磊 , 窦智峰 , 武洁 , 刘安康
- Applicant: 郑州轻工业学院
- Applicant Address: 河南省郑州市东风路5号
- Assignee: 郑州轻工业学院
- Current Assignee: 河南卓正电子科技有限公司
- Current Assignee Address: 450001 河南省郑州市高新区科学大道133号一层西半层
- Agency: 石家庄轻拓知识产权代理事务所
- Agent 王璐
- Main IPC: G01R33/14
- IPC: G01R33/14
Abstract:
本发明公开了一种在开磁路中测量铁磁材料磁滞回线的方法及其装置，该装置包括磁通门探头、螺线管骨架、试样、线圈、电流方向切换开关、可调恒流源、微控制器和磁强计，该方法包含仪器校准、剩磁消除、初始磁化曲线测量、磁场强度递减阶段测量、磁场强度递增阶段测量、输出磁滞回线共六个顺序执行的步骤。本发明中的在开磁路中测量铁磁材料磁滞回线的方法和装置测量过程便捷、精度高、不损坏试样。
Public/Granted literature
- CN107085192A 一种在开磁路中测量铁磁材料磁滞回线的方法及其装置 Public/Granted day:2017-08-22
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