发明授权
CN107064106B 一种二维表面等离子体最佳激发角位置的高精度识别方法
失效 - 权利终止
摘要:
该发明公开了一种二维表面等离子体(SPR)最佳激发角位置的高精度识别方法。所述方法包括:通过局部二值化和霍夫变换粗略定位出通光孔径圆的位置,并将与物镜后焦面共轭的图像传感器采集到的物镜后焦面图像裁剪为包含了通光孔径圆的W×W正方形矩阵图像;通过局部二值化提高通光孔径和通光孔径外部分的对比度并应用霍夫变换检测通光孔径的圆心及半径;统计通光孔径内沿半径方向的灰度值分布,估计SPR最佳激发角所在圆的粗略半径;在此基础上结合形态学方法确定SPR最佳激发角附近像素的灰度分布;最后,利用最小二乘方法计算出最佳激发角所在圆的圆心及半径,得到SPR最佳激发角精确位置。
公开/授权文献
- CN107064106A 一种二维表面等离子体最佳激发角位置的高精度识别方法 公开/授权日:2017-08-18