发明授权
- 专利标题: 一种测量太赫兹波长的装置及方法
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申请号: CN201710391081.6申请日: 2017-05-27
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公开(公告)号: CN107063476B公开(公告)日: 2019-05-17
- 发明人: 姜斌 , 吴斌 , 杨延召 , 王恒飞 , 应承平
- 申请人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 申请人地址: 山东省青岛市黄岛区香江路98号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人地址: 山东省青岛市黄岛区香江路98号
- 代理机构: 北京天奇智新知识产权代理有限公司
- 代理商 陈永宁
- 主分类号: G01J9/00
- IPC分类号: G01J9/00
摘要:
本发明涉及一种测量太赫兹波长的装置及方法。其方法是太赫兹光源发出太赫兹光经过可调光阑的阑孔,变成一束太赫兹光,再经过硅棱镜,由于不同波长的太赫兹光在硅棱镜中的折射率不同,因此,不同波长的太赫兹光经过硅棱镜后从不同的位置出射,太赫兹探测器在一维位移台上,通过计算机控制,对不同位置出射的太赫兹光进行探测,记录探测到太赫兹光的位置,就可以计算出太赫兹波的波长,如果是一个波长段内连续的太赫兹光,通过两个极限位置的探测,可以得到连续波长的太赫兹波的波长段。它可以扫描一个波段的太赫兹波;制作方便,精确度高;测量速度快。
公开/授权文献
- CN107063476A 一种测量太赫兹波长的装置及方法 公开/授权日:2017-08-18