发明授权
- 专利标题: 检测系统和方法
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申请号: CN201510958950.X申请日: 2015-12-18
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公开(公告)号: CN106896121B公开(公告)日: 2019-07-05
- 发明人: 陈志强 , 张丽 , 杨戴天杙 , 赵骥 , 金鑫 , 常铭
- 申请人: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园1号;
- 专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园1号;
- 代理机构: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
- 代理商 桑敏
- 主分类号: G01N23/046
- IPC分类号: G01N23/046 ; G01N23/207 ; G01V5/00
摘要:
本发明涉及检测系统和方法。检测系统包括:分布式射线源,该分布式射线源上具有多个射线源焦点,每个射线源焦点辐射射线以照射受检物,并且这多个射线源焦点被分成一定数量的群组;前准直器,每个射线源焦点的射线经由前准直器限制而射向XRD检测设备;XRD检测设备,该XRD检测设备包括多个XRD探测器,这多个XRD探测器被分组成与射线源焦点的群组数相同数量的群组并且同一群组的XRD探测器以被其他群组的XRD探测器间隔开的方式排布,并且其中,每个射线源焦点的射线仅由具有与该射线源焦点具有相同群组编号的XRD探测器接收。
公开/授权文献
- CN106896121A 检测系统和方法 公开/授权日:2017-06-27