Invention Grant
- Patent Title: MEMS器件检测方法
-
Application No.: CN201510925570.6Application Date: 2015-12-14
-
Publication No.: CN106872816BPublication Date: 2019-06-04
- Inventor: 陈志翔 , 朱佳辉
- Applicant: 山东共达电声股份有限公司
- Applicant Address: 山东省潍坊市坊子区凤山路68号
- Assignee: 山东共达电声股份有限公司
- Current Assignee: 山东共达电声股份有限公司
- Current Assignee Address: 山东省潍坊市坊子区凤山路68号
- Agency: 北京成创同维知识产权代理有限公司
- Agent 刘锋; 高青
- Main IPC: G01R31/00
- IPC: G01R31/00 ; G01R27/26 ; B81C99/00

Abstract:
公开了一种MEMS器件检测方法,所述MEMS器件由膜片和背板形成,所述方法包括:向所述MEMS器件的膜片和背板施加以第一频率变化的输入电压;检测所述MEMS器件的输出电压;根据如下公式获取与之对应的静电力;根据所述静电力和输出电压获取所述MEMS器件的检测参数。本发明的MEMS器件检测方法通过施加连续变化的电压模拟真实的MEMS麦克风来测试MEMS特性,提高了MEMS检测参数的准确度,省去了记录大量测试点的繁琐工作,提高了测试效率。
Public/Granted literature
- CN106872816A MEMS器件检测方法 Public/Granted day:2017-06-20
Information query