本发明涉及一种半导体芯片的全自动检测机，它包括机架、配电控制箱和操作显示屏，机架上设置有中部转盘检测装置和侧部转盘检测装置，中部转盘检测装置包括中部转轴，中部转轴套接有中部检测转盘和中部安装转盘，中部检测转盘上开设有检测孔，且中部安装转盘上安装有穿出检测孔的取料装置，侧部转盘检测装置包括与侧部转动电机连接的侧部转轴，侧部转轴上套接有侧部转盘，侧部转盘上设置有与半导体芯片配合的载具，侧部转盘位于中部转盘的下部，侧部转盘上的一个载具与穿过中部转盘的一个取料装置对接；本发明通过中部转盘检测装置和侧部转盘检测装置相互配合，实现半导体芯片的多个检测工序一体化进行，极大的提高了检测的效率，降低了检测工时。