发明公开
CN106659449A 断层摄影中的定量暗场成像
失效 - 权利终止
- 专利标题: 断层摄影中的定量暗场成像
- 专利标题(英): Quantitative dark-field imaging in tomography
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申请号: CN201580043288.3申请日: 2015-08-04
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公开(公告)号: CN106659449A公开(公告)日: 2017-05-10
- 发明人: T·克勒 , B·J·布伦德尔
- 申请人: 皇家飞利浦有限公司
- 申请人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 专利权人: 皇家飞利浦有限公司
- 当前专利权人: 皇家飞利浦有限公司
- 当前专利权人地址: 荷兰艾恩德霍芬
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 王英; 刘炳胜
- 优先权: 14180751.1 20140813 EP
- 国际申请: PCT/EP2015/067864 2015.08.04
- 国际公布: WO2016/023782 EN 2016.02.18
- 进入国家日期: 2017-02-13
- 主分类号: A61B6/00
- IPC分类号: A61B6/00 ; G01N23/04
摘要:
一种信号处理装置和一种相关的方法。具体地,所述装置包括新颖的图像重建器以根据干涉投影数据(m)来重建样本的横截面图像。所述重建器(RECON)是基于新的前向模型的,所述新的前向模型考虑相衬信号到暗场信号中的串扰。
公开/授权文献
- CN106659449B 断层摄影中的定量暗场成像 公开/授权日:2020-11-24