一种深硅刻蚀方法
摘要:
本发明公开了一种深硅刻蚀方法,涉及半导体技术领域,能够改善侧壁的形貌。该深硅刻蚀方法包括深硅刻蚀初始阶段,所述深硅刻蚀初始阶段包括交替进行的多个第一沉积步骤和多个第一刻蚀步骤,多个所述第一沉积步骤的沉积时间呈递减趋势,多个所述第一刻蚀步骤的刻蚀时间呈递增趋势。本发明用于进行深硅刻蚀。
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