发明授权
- 专利标题: 一种深硅刻蚀方法
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申请号: CN201510646129.4申请日: 2015-10-08
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公开(公告)号: CN106564855B公开(公告)日: 2019-05-31
- 发明人: 李成强
- 申请人: 北京北方华创微电子装备有限公司
- 申请人地址: 北京市经济技术开发区文昌大道8号
- 专利权人: 北京北方华创微电子装备有限公司
- 当前专利权人: 北京北方华创微电子装备有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市经济技术开发区文昌大道8号
- 代理机构: 北京中博世达专利商标代理有限公司
- 代理商 申健
- 主分类号: B81C1/00
- IPC分类号: B81C1/00
摘要:
本发明公开了一种深硅刻蚀方法,涉及半导体技术领域,能够改善侧壁的形貌。该深硅刻蚀方法包括深硅刻蚀初始阶段,所述深硅刻蚀初始阶段包括交替进行的多个第一沉积步骤和多个第一刻蚀步骤,多个所述第一沉积步骤的沉积时间呈递减趋势,多个所述第一刻蚀步骤的刻蚀时间呈递增趋势。本发明用于进行深硅刻蚀。
公开/授权文献
- CN106564855A 一种深硅刻蚀方法 公开/授权日:2017-04-19