Invention Publication
- Patent Title: 真空环境下的高温微纳米压痕测试装置与方法
- Patent Title (English): High-temperature micro-nano press mark test device and method in vacuum environment
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Application No.: CN201610886901.4Application Date: 2016-10-11
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Publication No.: CN106404574APublication Date: 2017-02-15
- Inventor: 赵宏伟 , 于淼 , 任露泉 , 洪坤 , 乔元森 , 刘航 , 方岱宁 , 裴永茂 , 曲兆亮 , 李莉佳 , 吴迪 , 孙兴栋 , 苗淼 , 周明星
- Applicant: 吉林大学
- Applicant Address: 吉林省长春市前进大街2699号
- Assignee: 吉林大学
- Current Assignee: 吉林大学
- Current Assignee Address: 吉林省长春市前进大街2699号
- Agency: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司
- Agent 王怡敏
- Main IPC: G01N3/54
- IPC: G01N3/54

Abstract:
本发明涉及一种真空环境下的高温微纳米压痕测试装置与方法,属于机电一体化精密仪器领域。装置可用于真空环境,防止高温环境造成对压头和试样的氧化,削弱空气流动对试样加热的影响,保障试样加热温度稳定,进而开展对试样微观力学性能的测试分析,获取材料的硬度、弹性模量、蠕变特性以及力热耦合作用的特性参数等,以研究变温和高温环境对材料微观力学行为、变形损伤机制和微观组织结构演化的影响规律,指导材料及其制品设计制造、寿命预测和可靠性评估。装置结构紧凑,测量精度高,应用范围广,在材料科学、装备制造、钢铁冶金、国防军事和航空航天等领域具备广阔应用前景,本发明的测试方法将丰富材料微观力学性能测试的理论与技术体系。
Public/Granted literature
- CN106404574B 真空环境下的高温微纳米压痕测试装置与方法 Public/Granted day:2023-07-04
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