本发明涉及一种电子设备测试系统及IP地址设定方法，其方法步骤如下：(a)依次将待测电子设备放入测试柜并接通电源；(b)测试柜控制器进行位置号识别和标记，并将IP＝j+i发送给待测电子设备，并确认IP设定成功；(c)所有待测电子设备放置完毕并且均收到测试柜控制器下发的IP地址之后，运行上位机测试程序；(d)上位机发出测试流程的第一步指令，即获取待测电子设备IP地址；(e)测试柜控制器收到上位机发出的获取IP地址命令之后，分配待测电子设备的IP地址；(f)上位机依据获取的IP地址建立测试数据库，快速有效解决IP地址与位置编号不一致的问题，为设备组网地址分配领域提供了一种新的方案。