发明公开
CN105897351A 上下行波束成形测量系统和方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 上下行波束成形测量系统和方法
- 专利标题(英): Uplink and downlink wave beam shaping measure system and method
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申请号: CN201410775275.2申请日: 2014-12-15
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公开(公告)号: CN105897351A公开(公告)日: 2016-08-24
- 发明人: 周慧 , 王帅 , 吴越 , 郭宇琨 , 林玉洁 , 郝时光
- 申请人: 中国空间技术研究院
- 申请人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 专利权人: 中国空间技术研究院
- 当前专利权人: 中国空间技术研究院
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 主分类号: H04B17/12
- IPC分类号: H04B17/12 ; H04B17/24 ; H04B7/04
摘要:
本发明提供了一种上下行波束成形测量系统和方法,用于基于软件无线电技术,一次性测量获得完整波束成形系统的传递矩阵。该系统包括:上行波束成形系统的发送端,发送通道同时连接发送通道幅相一致性校准网络的校准通道和上行波束成形网络的馈源阵的接收通道;发送通道幅相一致性校准网络,采用在线校准的模式;以及下行波束成形系统的接收端,接收通道连接下行波束成形网络的馈源阵的发送通道。因此,采用本发明,确保发送端发送多路正弦信号幅相信息的精确程度,发送馈源信号的校准可以和接收馈源信号的测试同时进行,从而提高了测试系统的测试效率并有效降低了测试工作量和测试系统复杂度。