发明授权
摘要:
一种用于分析样品的设备(20),包括:电磁辐射源(1),构造为产生入射电磁辐射束(2);样品容器(5),构造为容纳要分析的样品,成形该样品容器(5),以具有对称轴(25),布置该样品容器(5),以接收入射电磁辐射束(2),从而传播到样品容器(5)中,与样品相互作用,并且布置该样品容器(5),以使要检测的散射电磁辐射束(6)传播到样品容器(5)的外部;以及电磁辐射检测器(12),构造为以检测从样品容器(5)收到的要检测的散射电磁辐射束(6),其中相对于入射电磁辐射束(2)的方向确定样品容器(5)的方位,使得入射电磁辐射束(2)刚好在传播到样品容器(5)中之前到对称轴(25)的入射轨迹相对于要检测的散射电磁辐射束(6)从对称轴(25)到散射电磁辐射束(6)刚好离开样品容器(5)后的位置的散射轨迹对称,使得样品容器(5)外的散射轨迹与样品容器(5)的和样品的折射率无关。
公开/授权文献
- CN105527224A 为对称入射束和散射束几何形状调节样品架的方位,从而补偿与折射率相关的失真 公开/授权日:2016-04-27