公开(公告)号：CN104949921A

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201510134746.6

申请日：2015-03-26

申请人： 安东帕有限公司

发明人： M.奥斯特迈耶尔

IPC分类号： G01N21/21

CPC分类号： G01N21/21 ,  G01N21/01 ,  G01N21/0332 ,  G01N21/05 ,  G01N2021/0106 ,  G01N2021/0367 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/0683

摘要： 本发明记载了一种用于测量试样的偏振光学性质的光学测量系统(100-600，800)，其具有：(a)光源(130)，该光源用于沿着光学测量系统(100-600，800)的分析光路(130a)的光学轴发出测量光(130a)，(b)偏振状态发生器(PSG)，该发生器在光源(130)下游布置于分析光路(130a)中并且被配置为测量光(130a)提供限定的偏振状态，(c)试样容器(150)，该试样容器在偏振状态发生器(PSG)下游布置在分析光路(130a)中并且为接纳待测试样而形成，(d)偏振状态分析器(PSA)，该分析器在试样容器(PSA)下游布置在分析光路(130a)中并被配置为测量穿过试样后测量光(130a)的偏振状态，以及(e)机械支架结构(120，220，520a-c，620a-b，820)，在该支架结构上至少直接安置偏振状态发生器(PSG)、试样容器(150)以及偏振状态分析器(PSA)。还记载了用于制造这种光学测量系统(100-600，800)的方法。

公开(公告)号：CN104237073B

公开(公告)日：2018-10-16

申请号：CN201410157747.8

申请日：2014-04-18

申请人： 安东帕有限公司

发明人： J.朗格 ,  M.科伦 ,  G.柯坪

IPC分类号： G01N11/14 ,  G05B19/042

摘要： 记载了一种应变装置(135)，该应变装置与双电动机流变仪(100)以驱动方式连接或可连接。该双电动机流变仪(100)具有第一测量电动机(110)和第二测量电动机(112)，其中该第一测量电动机(110)和第二测量电动机(112)可彼此独立地控制，并且其中第一测量电动机(110)和第二测量电动机(112)中的每一个为了确定由相关的测量电动机(110、112)产生的转矩而设置。所述应变装置包含(135)：用于保持试样的第一试样区段的第一试样保持部件(102)，和用于保持试样的第二试样区段的第二试样保持部件(104)。

公开(公告)号：CN105527224A

公开(公告)日：2016-04-27

申请号：CN201410514959.7

申请日：2014-09-29

申请人： 安东帕有限公司

发明人： C.莫沃兹

IPC分类号： G01N21/01 ,  G01N21/31

摘要： 一种用于分析样品的设备(20)，包括：电磁辐射源(1)，构造为产生入射电磁辐射束(2)；样品容器(5)，构造为容纳要分析的样品，成形该样品容器(5)，以具有对称轴(25)，布置该样品容器(5)，以接收入射电磁辐射束(2)，从而传播到样品容器(5)中，与样品相互作用，并且布置该样品容器(5)，以使要检测的散射电磁辐射束(6)传播到样品容器(5)的外部；以及电磁辐射检测器(12)，构造为以检测从样品容器(5)收到的要检测的散射电磁辐射束(6)，其中相对于入射电磁辐射束(2)的方向确定样品容器(5)的方位，使得入射电磁辐射束(2)刚好在传播到样品容器(5)中之前到对称轴(25)的入射轨迹相对于要检测的散射电磁辐射束(6)从对称轴(25)到散射电磁辐射束(6)刚好离开样品容器(5)后的位置的散射轨迹对称，使得样品容器(5)外的散射轨迹与样品容器(5)的和样品的折射率无关。

公开(公告)号：CN105527224B

公开(公告)日：2019-02-22

申请号：CN201410514959.7

申请日：2014-09-29

申请人： 安东帕有限公司

发明人： C.莫沃兹

IPC分类号： G01N21/01 ,  G01N21/31

摘要： 一种用于分析样品的设备(20)，包括：电磁辐射源(1)，构造为产生入射电磁辐射束(2)；样品容器(5)，构造为容纳要分析的样品，成形该样品容器(5)，以具有对称轴(25)，布置该样品容器(5)，以接收入射电磁辐射束(2)，从而传播到样品容器(5)中，与样品相互作用，并且布置该样品容器(5)，以使要检测的散射电磁辐射束(6)传播到样品容器(5)的外部；以及电磁辐射检测器(12)，构造为以检测从样品容器(5)收到的要检测的散射电磁辐射束(6)，其中相对于入射电磁辐射束(2)的方向确定样品容器(5)的方位，使得入射电磁辐射束(2)刚好在传播到样品容器(5)中之前到对称轴(25)的入射轨迹相对于要检测的散射电磁辐射束(6)从对称轴(25)到散射电磁辐射束(6)刚好离开样品容器(5)后的位置的散射轨迹对称，使得样品容器(5)外的散射轨迹与样品容器(5)的和样品的折射率无关。

公开(公告)号：CN103364348A

公开(公告)日：2013-10-23

申请号：CN201310099961.8

申请日：2013-03-26

申请人： 安东帕有限公司

发明人： M·奥斯特迈耶尔 ,  G·法菲尔

IPC分类号： G01N21/21 ,  G01J4/04

CPC分类号： G01N21/21 ,  G01J4/04 ,  G01J2004/001 ,  G01N21/211 ,  G01N21/29 ,  G01N21/59 ,  G01N21/8803 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/90 ,  G01N21/9027 ,  G01N21/94 ,  G01N2021/8848

摘要： 本发明涉及一种用于分析液体样本（115、315）的光学设备（100、300），特别是偏振计，该光学设备包括：发光系统（101、301、355），该发光系统产生用于平面照射样本（115、315）的光（110、310）；检测系统（135、335），该检测系统设置为位置分辨地检测由于为平面照射所提供的光通过样本透射所导致的光；远心光学器件（129、329），该光学器件包括在样本（115、315）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331），和在透镜（131、331）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331）的焦平面（134、334）内的孔径光阑（133、333）。

公开(公告)号：CN104949921B

公开(公告)日：2019-02-22

申请号：CN201510134746.6

申请日：2015-03-26

申请人： 安东帕有限公司

发明人： M.奥斯特迈耶尔

IPC分类号： G01N21/21

摘要： 本发明记载了一种用于测量试样的偏振光学性质的光学测量系统(100‑600，800)，其具有：(a)光源(130)，该光源用于沿着光学测量系统(100‑600，800)的分析光路(130a)的光学轴发出测量光(130a)，(b)偏振状态发生器(PSG)，该发生器在光源(130)下游布置于分析光路(130a)中并且被配置为为测量光(130a)提供限定的偏振状态，(c)试样容器(150)，该试样容器在偏振状态发生器(PSG)下游布置在分析光路(130a)中并且为接纳待测试样而形成，(d)偏振状态分析器(PSA)，该分析器在试样容器(PSA)下游布置在分析光路(130a)中并被配置为测量穿过试样后测量光(130a)的偏振状态，以及(e)机械支架结构(120，220，520a‑c，620a‑b，820)，在该支架结构上至少直接安置偏振状态发生器(PSG)、试样容器(150)以及偏振状态分析器(PSA)。还记载了用于制造这种光学测量系统(100‑600，800)的方法。

公开(公告)号：CN104519607B

公开(公告)日：2019-02-22

申请号：CN201410508720.9

申请日：2014-09-28

申请人： 安东帕有限公司

发明人： H.科奇安 ,  R.岑特纳 ,  J.扎克 ,  E.甘葛

IPC分类号： H05B6/64

摘要： 本发明描述了一种微波加热系统，包括：盘状体；圆顶帽，用于装配到盘状体，使得由盘状体和圆顶帽形成体积；以及转动体装置，用于支承至少一个反应容器，并且由盘状体可旋转地支承，转动体装置包括：基板，该基板包括至少一个通孔，以及至少一个管状件，具有纵轴，并且用于容纳反应容器且以至少一个管状件的纵轴穿过至少一个通孔的方式，联接到基板，其中基板和至少一个管状件包括金属，并且其中盘状体联接到微波源，使得微波场能够进入体积内，以致与盘状体与转动体装置之间的区域相比，微波场在转动体装置与圆顶帽之间的区域内衰减。

公开(公告)号：CN103364348B

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201310099961.8

申请日：2013-03-26

申请人： 安东帕有限公司

发明人： M·奥斯特迈耶尔 ,  G·法菲尔

IPC分类号： G01N21/21 ,  G01J4/04

CPC分类号： G01N21/21 ,  G01J4/04 ,  G01J2004/001 ,  G01N21/211 ,  G01N21/29 ,  G01N21/59 ,  G01N21/8803 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/90 ,  G01N21/9027 ,  G01N21/94 ,  G01N2021/8848

摘要： 本发明涉及一种用于分析液体样本（115、315）的光学设备（100、300），特别是偏振计，该光学设备包括：发光系统（101、301、355），该发光系统产生用于平面照射样本（115、315）的光（110、310）；检测系统（135、335），该检测系统设置为位置分辨地检测由于为平面照射所提供的光通过样本透射所导致的光；远心光学器件（129、329），该光学器件包括在样本（115、315）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331），和在透镜（131、331）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331）的焦平面（134、334）内的孔径光阑（133、333）。

公开(公告)号：CN104519607A

公开(公告)日：2015-04-15

申请号：CN201410508720.9

申请日：2014-09-28

申请人： 安东帕有限公司

发明人： H.科奇安 ,  R.岑特纳 ,  J.扎克 ,  E.甘葛

IPC分类号： H05B6/64

CPC分类号： H05B6/806 ,  B01J19/126 ,  B01J2219/1218 ,  B01J2219/1227 ,  B01J2219/1233 ,  B01J2219/1257 ,  B01J2219/126 ,  B01J2219/1266 ,  B01J2219/1272 ,  H05B6/6402 ,  H05B6/6411 ,  H05B6/707

摘要： 本发明描述了一种微波加热系统，包括：盘状体；圆顶帽，用于装配到盘状体，使得由盘状体和圆顶帽形成体积；以及转动体装置，用于支承至少一个反应容器，并且由盘状体可旋转地支承，转动体装置包括：基板，该基板包括至少一个通孔，以及至少一个管状件，具有纵轴，并且用于容纳反应容器且以至少一个管状件的纵轴穿过至少一个通孔的方式，联接到基板，其中基板和至少一个管状件包括金属，并且其中盘状体联接到微波源，使得微波场能够进入体积内，以致与盘状体与转动体装置之间的区域相比，微波场在转动体装置与圆顶帽之间的区域内衰减。

公开(公告)号：CN104237073A

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：CN201410157747.8

申请日：2014-04-18

申请人： 安东帕有限公司

发明人： J.朗格 ,  M.科伦 ,  G.柯坪

IPC分类号： G01N11/14 ,  G05B19/042

CPC分类号： G01N11/14 ,  G01N11/00 ,  G01N11/142

摘要： 记载了一种应变装置(135)，该应变装置与双电动机流变仪(100)以驱动方式连接或可连接。该双电动机流变仪(100)具有第一测量电动机(110)和第二测量电动机(112)，其中该第一测量电动机(110)和第二测量电动机(112)可彼此独立地控制，并且其中第一测量电动机(110)和第二测量电动机(112)中的每一个为了确定由相关的测量电动机(110、112)产生的转矩而设置。所述应变装置包含(135)：用于保持试样的第一试样区段的第一试样保持部件(102)，和用于保持试样的第二试样区段的第二试样保持部件(104)。