发明公开
CN105467341A 确定测量序列中的时间窗
无效 - 撤回
- 专利标题: 确定测量序列中的时间窗
- 专利标题(英): Determining time windows in a scan sequence
-
申请号: CN201510643116.1申请日: 2015-09-30
-
公开(公告)号: CN105467341A公开(公告)日: 2016-04-06
- 发明人: 托马斯·本纳 , 斯文·卡姆帕格纳 , 托尔斯滕·法伊魏尔 , 贝恩德·屈恩 , 托尔斯滕·施佩克纳 , 彼得·施派尔 , 丹尼尔·尼科·施普利特霍夫
- 申请人: 西门子公司
- 申请人地址: 德国慕尼黑
- 专利权人: 西门子公司
- 当前专利权人: 西门子公司
- 当前专利权人地址: 德国慕尼黑
- 代理机构: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 余刚; 李慧
- 优先权: 102014219780.5 2014.09.30 DE
- 主分类号: G01R33/54
- IPC分类号: G01R33/54
摘要:
本发明涉及一种用于确定测量序列中的时间窗的方法,其中能够在正进行的测量中改变测量的设定参数的值而没有不利地影响借助测量获得的测量数据,包括如下步骤:加载测量序列;基于测量序列中的使用相干性的分析来确定测量序列中的时间窗,在时间窗中能够在正进行的测量中改变设定参数的数值;将所确定的时间窗存储和/或继续处理。根据本发明的对使用相干性的分析能简单地执行,因为对此所需的信息已固有地包含在测量序列中。根据本发明的方法允许:极简单地确定测量序列中的时间窗,在时间窗中能够改变设定参数。通过确定其中能够改变设定参数的时间窗显著地简化测量流程与设定参数的改变的同步。此外,能够使用所确定的时间窗以节约能量。