发明授权
CN105181141B 一种外差式偏振干涉光谱成像方法及光谱仪
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种外差式偏振干涉光谱成像方法及光谱仪
-
申请号: CN201510609542.3申请日: 2015-09-22
-
公开(公告)号: CN105181141B公开(公告)日: 2017-09-12
- 发明人: 才啟胜 , 相里斌 , 韩炜 , 方煜 , 程旺 , 谭政
- 申请人: 中国科学院光电研究院
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村东路95号
- 专利权人: 中国科学院光电研究院
- 当前专利权人: 中国科学院光电研究院
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村东路95号
- 代理机构: 北京凯特来知识产权代理有限公司
- 代理商 郑立明; 郑哲
- 主分类号: G01J3/45
- IPC分类号: G01J3/45 ; G01J3/447
摘要:
本发明公开了一种外差式偏振干涉光谱成像方法及光谱仪,相关光谱仪包括:依次设置的前置镜、准直镜、起偏器、Savart偏光镜、1/4波片、偏振光栅对、分析器、成像镜、面阵探测器以及数据图像处理系统;其中,偏振光栅对使得经过Savart偏光镜后的两束平行光产生了与波数相关的横向剪切量,从而使干涉图产生了外差的特点,降低了干涉图的频率。本发明通过外差技术,使得干涉图的零频对应于光谱图中的σmin波数,即,使得原始σmin到σmax的一段的光谱图移频到0波数附近。这样,如果在保证光谱分辨率不变的情况下,则采样点数会降到N=2(σmax‑σmin)/δσ;而若采样点数保持不变,则光谱分辨率会提高:分辨率变为δσ(σmax‑σmin)/σmax。由此可见,本发明的上述方案可通过较少的干涉图采样点数,实现较高的光谱分辨率。
公开/授权文献
- CN105181141A 一种外差式偏振干涉光谱成像方法及光谱仪 公开/授权日:2015-12-23