Invention Grant
- Patent Title: 用于优化电阻性衬底的电镀性能的晶片边缘的金属化
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Application No.: CN201510296345.0Application Date: 2015-06-02
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Publication No.: CN105132979BPublication Date: 2018-05-08
- Inventor: 阿图·克里克斯
- Applicant: 朗姆研究公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚州
- Assignee: 朗姆研究公司
- Current Assignee: 朗姆研究公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚州
- Agency: 上海胜康律师事务所
- Agent 樊英如; 李献忠
- Priority: 14/294,006 2014.06.02 US
- Main IPC: C25D7/12
- IPC: C25D7/12

Abstract:
本发明涉及用于优化电阻性衬底的电镀性能的晶片边缘的金属化,具体提供了一种用于电镀衬底的方法,该方法包括:提供衬底,所述衬底具有在所述衬底的顶表面上设置的导电层,所述衬底的所述顶表面具有边缘排除区和处理区;在使所述衬底旋转的同时引导无电沉积溶液流朝向所述边缘排除区,以在所述边缘排除区处的所述导电层上镀敷金属材料;使所述无电沉积溶液流持续一段时间,以在所述边缘排除区产生所述金属材料的增大了的厚度,其中所述金属材料的所述增大了的厚度减小在所述边缘排除区的所述金属材料的电阻;在所述金属材料上施加电触件,以及在向所述衬底的所述处理区上施加电镀溶液时,经由所述电触件施加电流到所述金属材料。
Public/Granted literature
- CN105132979A 用于优化电阻性衬底的电镀性能的晶片边缘的金属化 Public/Granted day:2015-12-09
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