Invention Grant
- Patent Title: 用于制造半导体器件的方法和半导体器件
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Application No.: CN201510261574.9Application Date: 2015-05-21
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Publication No.: CN105097665BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: M.巴特尔斯 , H.法伊克 , C.屈恩 , D.奥芬贝格 , A.施特尔滕波尔 , H.塔迪肯 , I.乌利希
- Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
- Applicant Address: 德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号
- Assignee: 英飞凌科技股份有限公司
- Current Assignee: 英飞凌科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 王岳; 胡莉莉
- Priority: 14/283242 2014.05.21 US
- Main IPC: H01L21/768
- IPC: H01L21/768 ; H01L23/482

Abstract:
本发明涉及用于制造半导体器件的方法和半导体器件。根据各种实施例的用于制造半导体器件的方法可包括:在半导体衬底的第一区中形成开口,开口具有至少一个侧壁和底部;将掺杂剂原子注入开口的至少一个侧壁和底部中;将横向邻近于第一区的半导体衬底的第二区的至少一部分配置为非晶或多晶区中的至少一个;以及在半导体衬底的第一和第二区中的至少一个之上形成互连。
Public/Granted literature
- CN105097665A 用于制造半导体器件的方法和半导体器件 Public/Granted day:2015-11-25
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IPC分类: