- 专利标题: 含氧化锆及金属氧化剂的化学机械抛光组合物
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申请号: CN201480006864.2申请日: 2014-01-23
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公开(公告)号: CN104955914B公开(公告)日: 2017-06-23
- 发明人: L.付 , S.格伦宾 , M.斯滕德
- 申请人: 嘉柏微电子材料股份公司
- 申请人地址: 美国伊利诺伊州
- 专利权人: 嘉柏微电子材料股份公司
- 当前专利权人: CMC材料股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国伊利诺伊州
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 宋莉
- 优先权: 13/754,413 20130130 US
- 国际申请: PCT/US2014/012691 2014.01.23
- 国际公布: WO2014/120541 EN 2014.08.07
- 进入国家日期: 2015-07-30
- 主分类号: C09K3/14
- IPC分类号: C09K3/14 ; H01L21/304
摘要:
本发明提供一种化学机械抛光组合物及一种利用该化学机械抛光组合物以化学‑机械方式抛光基板的方法。该抛光组合物包括:(a)研磨剂颗粒,其中该研磨剂颗粒包括氧化锆,(b)至少一种金属离子氧化剂,其中该至少一种金属离子氧化剂包括Co3+、Au+、Ag+、Pt2+、Hg2+、Cr3+、Fe3+、Ce4+或Cu2+金属离子,及(c)水性载体,其中该化学机械抛光组合物的pH在1至7的范围内,且其中该化学机械抛光组合物不包含过氧型氧化剂。
公开/授权文献
- CN104955914A 含氧化锆及金属氧化剂的化学机械抛光组合物 公开/授权日:2015-09-30