发明公开
- 专利标题: 具有提升辐射抗扰度的集成电路
- 专利标题(英): An integrated circuit having improved radiation immunity
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申请号: CN201380060831.1申请日: 2013-11-25
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公开(公告)号: CN104885220A公开(公告)日: 2015-09-02
- 发明人: 普拉佛·贾恩 , 詹姆士·卡普 , 麦克·J·哈特
- 申请人: 吉林克斯公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 吉林克斯公司
- 当前专利权人: 吉林克斯公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 许静; 安利霞
- 优先权: 13/686,553 2012.11.27 US
- 国际申请: PCT/US2013/071751 2013.11.25
- 国际公布: WO2014/085347 EN 2014.06.05
- 进入国家日期: 2015-05-21
- 主分类号: H01L27/02
- IPC分类号: H01L27/02 ; H01L27/11 ; G11C11/412
摘要:
描述具有提升辐射抗扰度的集成电路。所述集成电路包括衬底;形成于所述衬底上且具有存储器单元的N型晶体管的P阱;及形成于所述衬底上且具有所述存储器单元的P型晶体管的N阱;其中所述N阱具有用于容纳所述P型晶体管的最小尺寸。
公开/授权文献
- CN104885220B 具有提升辐射抗扰度的集成电路 公开/授权日:2017-09-08
IPC分类: