发明公开
- 专利标题: 半导体器件的制造方法、程序及衬底处理装置
- 专利标题(英): Method of manufacturing semiconductor device, program, and substrate processing apparatus
-
申请号: CN201410412612.1申请日: 2014-08-20
-
公开(公告)号: CN104752163A公开(公告)日: 2015-07-01
- 发明人: 佐佐木隆史 , 山本哲夫
- 申请人: 株式会社日立国际电气
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立国际电气
- 当前专利权人: 株式会社国际电气
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京市金杜律师事务所
- 代理商 杨宏军; 王大方
- 优先权: 2013-270652 2013.12.27 JP
- 主分类号: H01L21/02
- IPC分类号: H01L21/02 ; H01L21/67
摘要:
本发明涉及高效率地除去喷头内的副产物、并抑制颗粒生成的半导体器件的制造方法、程序及衬底处理装置。本发明的半导体器件的制造方法,具有:成膜工序,通过喷头向处理室内的衬底上供给成膜气体和非活性气体,在所述衬底上形成膜;和堆积膜除去工序,在所述处理室内没有衬底的状态下,将温度比所述成膜工序时供给的所述非活性气体低的非活性气体供给到所述喷头,由此除去因所述成膜工序而堆积在所述喷头内的堆积膜。
公开/授权文献
- CN104752163B 半导体器件的制造方法、程序及衬底处理装置 公开/授权日:2018-06-05
IPC分类: