发明授权
- 专利标题: 双能/双视角的高能X射线透视成像系统
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申请号: CN201310742070.X申请日: 2013-12-30
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公开(公告)号: CN104749199B公开(公告)日: 2019-02-19
- 发明人: 唐华平 , 陈志强 , 唐传祥 , 陈怀璧 , 李元景 , 赵自然 , 刘耀红 , 孙尚民 , 阎忻水 , 秦占峰
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 闫小龙; 王忠忠
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04
摘要:
本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统具备:检查通道;电子加速器;屏蔽准直装置,包括屏蔽结构、设置在所述屏蔽结构内的用于引出低能平面扇形X射线束流的第一准直器以及用于引出高能平面扇形X射线束流的第二准直器;低能探测器阵列,用于接收来自所述第一准直器的X射线束流;高能探测器阵列,用于接收来自所述第二准直器的X射线束流;信号分析与图像处理子系统、以及电源与控制子系统,所述第一准直器和所述第二准直器位于电子束流的轴线的同一侧,所述第一准直器、所述低能探测器阵列、电子束流打靶产生的靶点位于第一平面内,所述第二准直器、所述高能探测器阵列、电子束流打靶产生的靶点位于第二平面内。
公开/授权文献
- CN104749199A 双能/双视角的高能X射线透视成像系统 公开/授权日:2015-07-01