发明授权
- 专利标题: 一种可控反应物均匀分布的双通道喷口结构
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申请号: CN201410196612.2申请日: 2014-05-10
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公开(公告)号: CN103981512B公开(公告)日: 2016-09-28
- 发明人: 魏武 , 刘鹏 , 赵红军 , 张俊业 , 童玉珍 , 张国义
- 申请人: 东莞市中镓半导体科技有限公司 , 北京大学
- 申请人地址: 广东省东莞市企石镇科技工业园
- 专利权人: 东莞市中镓半导体科技有限公司,北京大学
- 当前专利权人: 东莞市中镓半导体科技有限公司,北京大学
- 当前专利权人地址: 广东省东莞市企石镇科技工业园
- 主分类号: C23C16/455
- IPC分类号: C23C16/455 ; C23C16/34
摘要:
本发明公开了一种可控反应物均匀分布的双通道喷口结构,包括第一通道、第二通道。所述第一通道为等直径或变直径圆柱形通道,所通反应物气体为GaCl;所述第二通道位于第一通道中心位置,所通气体可以是N2也可以是GaCl与N2的混合气体;所述第二通道可以为一段圆柱形通道,也可由两段组成,上段为圆柱形,下段为圆台形或倒圆台形,两段相连处直径相等。本发明一种可控反应物均匀分布的双通道喷口结构,通过最佳化两通道中气体流量大小,来改善反应物GaCl在衬底上方附近径向分布的均匀性,以满足较大面积衬底上GaN晶体材料均匀生长之需求。
公开/授权文献
- CN103981512A 一种可控反应物均匀分布的双通道喷口结构 公开/授权日:2014-08-13
IPC分类: