发明授权
- 专利标题: CT探测器偏转角的确定方法和装置
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申请号: CN201310582495.9申请日: 2013-11-19
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公开(公告)号: CN103654833B公开(公告)日: 2015-10-28
- 发明人: 孟凡勇 , 李忠传 , 李静海
- 申请人: 中国科学院过程工程研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村北二条1号
- 专利权人: 中国科学院过程工程研究所
- 当前专利权人: 中国科学院过程工程研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村北二条1号
- 代理机构: 北京品源专利代理有限公司
- 代理商 胡彬
- 主分类号: A61B6/03
- IPC分类号: A61B6/03 ; G01N23/04 ; H05G1/26
摘要:
本发明公开了一种CT探测器偏转角的确定方法和装置。所述方法包括:使用待测CT对被测物体进行全周扫描,获取被测物体的边缘投影点在探测器阵列中的第一极限位置D1和第二极限位置D2;以待测CT的旋转中心投影点COR在探测器阵列中的位置D0为原点,以探测器阵列所在直线为X轴,建立坐标系,计算D1的X轴坐标值q1和D2的X轴坐标值q2;计算待测CT的射线源焦点与D0之间的距离RD;根据RD、q1和q2,确定所述待测CT的探测器偏转角γ。本发明实现了无需使用专用的校正模体,仅通过直接扫描被测物体,并对采集的原始数据进行简单的运算,即可快速而精确的确定待测CT的探测器偏转角的技术效果。
公开/授权文献
- CN103654833A CT探测器偏转角的确定方法和装置 公开/授权日:2014-03-26