Invention Publication
CN103389174A 微力测量装置
无效 - 撤回
- Patent Title: 微力测量装置
- Patent Title (English): Micro force measuring device
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Application No.: CN201310339371.8Application Date: 2013-08-06
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Publication No.: CN103389174APublication Date: 2013-11-13
- Inventor: 于立娟 , 牛亚楠 , 张学成 , 王海军
- Applicant: 吉林大学
- Applicant Address: 吉林省长春市南关区前进大街2699号
- Assignee: 吉林大学
- Current Assignee: 吉林大学
- Current Assignee Address: 吉林省长春市南关区前进大街2699号
- Agency: 长春菁华专利商标代理事务所
- Agent 南小平
- Main IPC: G01L1/00
- IPC: G01L1/00 ; G01L1/08

Abstract:
微力测量装置属于微小力值标定与计量测试技术领域,目的在于解决现有技术存在的结构复杂、力的作用线不易固定和成本高昂的问题。本发明的微力测量装置包括不等臂天平、力值复现装置、微位移测量装置、计算机控制系统;不等臂天平的长臂端部设置有托盘,短臂端部设置有边刀结构,边刀结构通过力值复现装置与微位移测量装置连接;微位移测量装置的输出端通过连接套与绝缘杆连接,绝缘杆与力值复现装置的内电极上端盖的螺纹孔连接。本发明采用力值复现装置复现微小力值,并改进数显千分尺用来测量内电极的相对微小位移,把力值变化变成电学量相对于位移量的精密电容梯度变化,通过杠杆结构与标准砝码自重力构成平衡,结构简单、成本较低。
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