发明授权
- 专利标题: 一种调焦调平信号处理方法
- 专利标题(英): Focusing and leveling signal processing method
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申请号: CN201210091294.4申请日: 2012-03-31
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公开(公告)号: CN103365099B公开(公告)日: 2015-02-11
- 发明人: 李志丹 , 潘炼东 , 邬利挺
- 申请人: 上海微电子装备有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区张东路1525号
- 专利权人: 上海微电子装备有限公司
- 当前专利权人: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江高科技园区张东路1525号
- 代理机构: 北京连和连知识产权代理有限公司
- 代理商 王光辉
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20 ; G03F9/00
摘要:
一种调焦调平信号处理方法,照明光源产生的照明光束投射到投影狭缝阵列上形成狭缝光束,狭缝光束投射到被测硅片上形成投影光束,经被测硅片反射后通过光学探测结构形成投影光斑,投影光斑入射到探测狭缝阵列上形成探测光斑,探测光斑入射到光电探测器上形成探测信号,光学探测结构包括偏置平板和扫描反射镜,扫描反射镜做简谐振动,该方法包括以下步骤,模数转换单元对探测信号进行模数转换后,结合所述扫描反射镜同步信号存储采样数据;获得采样数据中两个相邻波峰的时间间隔;判断被测硅片是否进入精测范围,如果进入精测范围,根据时间间隔计算出被测硅片的离焦量z;如果没有进入精测范围,重复上述步骤。该方法规避了因硅片面形貌差异导致的测量误差,提升系统的测量精度。
公开/授权文献
- CN103365099A 一种调焦调平信号处理方法 公开/授权日:2013-10-23
IPC分类: