- 专利标题: ECR-PEMOCVD在自支撑金刚石厚膜上低温沉积InN薄膜的制备方法
- 专利标题(英): Preparation method of InN (indium nitride) thin film through low-temperature deposition on self-supporting diamond thick film by ECR-PEMOCVD (electron cyclotron resonance-plasma enhanced metal organic chemical vapor deposition)
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申请号: CN201310298983.7申请日: 2013-07-17
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公开(公告)号: CN103334089A公开(公告)日: 2013-10-02
- 发明人: 张东 , 张铁岩 , 鞠振河 , 王晓文 , 曹福毅 , 张晓慧 , 张宏丽 , 孙勇 , 李昱材 , 杜士鹏 , 赵琰 , 王宝石 , 衣云龙 , 金月新 , 张相明 , 王健 , 刘莉莹 , 王刚 , 郭瑞 , 王帅杰
- 申请人: 沈阳工程学院
- 申请人地址: 辽宁省沈阳市沈北新区蒲昌路18号
- 专利权人: 沈阳工程学院
- 当前专利权人: 沈阳嘉越电力科技有限公司
- 当前专利权人地址: 辽宁省沈阳市沈北新区蒲昌路18号
- 代理机构: 沈阳亚泰专利商标代理有限公司
- 代理商 史旭泰
- 主分类号: C23C16/34
- IPC分类号: C23C16/34 ; C23C16/44
摘要:
本发明属于新型光电材料沉积制备技术领域,提供一种可制备电学性能良好、散热性能良好的InN光电薄膜的ECR-PEMOCVD在自支撑金刚石厚膜上低温沉积InN薄膜的制备方法。本发明包括以下步骤:1)将自支撑金刚石厚膜基片依次用丙酮、乙醇、去离子水超声波清洗后,用氮气吹干送入反应室;2)采用ECR-PEMOCVD系统,将反应室抽真空,基片加热至20~600℃,再向反应室内通入氢气携带的三甲基铟、氮气,三甲基铟与氮气流量比为(1~2):(100~200),控制气体总压强为0.8~2.0Pa,电子回旋共振反应30min~3h,得到在自支撑金刚石厚膜基片的InN光电薄膜。
公开/授权文献
- CN103334089B ECR-PEMOCVD在自支撑金刚石厚膜上低温沉积InN薄膜的制备方法 公开/授权日:2015-08-19
IPC分类: