发明授权
- 专利标题: 浅槽隔离结构及其形成方法
- 专利标题(英): Shallow-trench isolation structure and formation method thereof
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申请号: CN201110207818.7申请日: 2011-07-22
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公开(公告)号: CN102891100B公开(公告)日: 2015-04-29
- 发明人: 李凡
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 骆苏华
- 主分类号: H01L21/762
- IPC分类号: H01L21/762 ; H01L29/06
摘要:
一种浅槽隔离结构及其形成方法,所述形成方法包括:在半导体衬底上形成腐蚀阻挡层;刻蚀所述腐蚀阻挡层和半导体衬底,形成沟槽;在所述腐蚀阻挡层的表面以及沟槽的侧壁、底部形成保护层;在形成有保护层的所述沟槽内填充介质材料,形成介质层;在所述介质层上形成分子筛;透过所述分子筛向所述介质层通入反应气体,以去除全部介质层,从而在所述沟槽内形成空气间隔;在所述分子筛上形成绝缘介质层。本技术方案提供的浅槽隔离结构的制作方法,工艺简单,成本较低。
公开/授权文献
- CN102891100A 浅槽隔离结构及其形成方法 公开/授权日:2013-01-23
IPC分类: