发明公开
- 专利标题: 测试磁头耐高温性能的方法及其装置
- 专利标题(英): Method and device for testing high temperature resistance of magnetic head
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申请号: CN201110109622.4申请日: 2011-04-29
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公开(公告)号: CN102760449A公开(公告)日: 2012-10-31
- 发明人: 梁钊明 , 雷卓文 , 李文杰 , 林浩基 , 梁国锦 , 梁卓荣 , 丁菊仁 , 倪荣光
- 申请人: 新科实业有限公司
- 申请人地址: 中国香港新界沙田香港科学园科技大道东六号新科中心
- 专利权人: 新科实业有限公司
- 当前专利权人: 新科实业有限公司
- 当前专利权人地址: 中国香港新界沙田香港科学园科技大道东六号新科中心
- 代理机构: 广州三环专利代理有限公司
- 代理商 郝传鑫
- 主分类号: G11B5/455
- IPC分类号: G11B5/455
摘要:
本发明公开一种测试磁头耐高温性能的方法,所述磁头包括空气承载面及两屏蔽层,所述方法包括:以第一方向向所述磁头施加多个不同强度的第一磁场,并测量第一输出参数曲线;重复以第二方向施加不同强度的第二磁场,同时以第一方向施加变化的第一磁场,并测量多个第二输出参数曲线;以及判断所述第一输出参数曲线和所述第二输出参数曲线中是否存在超出容许值的变化,从而筛选出不良磁头,所述第一方向垂直于所述磁头的空气承载面,所述第二方向垂直于所述磁头的屏蔽层。本发明能够在不对磁头加热的情况下高精度地筛选出具有不佳的耐高温性能的不良磁头。
公开/授权文献
- CN102760449B 测试磁头耐高温性能的方法及其装置 公开/授权日:2016-06-08
IPC分类: